Rapidusとキーサイト、歩留まり向上とPDK高精度化の実現に向けた戦略的協業で合意～PDK高精度化のためにキーサイトの半導体製造プロセス向け解析ソリューションを採用～

Rapidus株式会社（本社：東京都千代田区麹町4丁目1番地、代表取締役社長兼CEO：小池淳義）は本日、キーサイト・テクノロジー株式会社（米Keysight Technologies, Inc.の日本法人 / 本社：東京都八王子市高倉町9番1号、 代表取締役社長：寺澤 紳司）とMOU（基本合意書）を締結したと発表しました。この協業において、Rapidus はキーサイトが有する半導体のパラメトリックテスト技術、解析技術、製造プロセス最適化に関するノウハウを活用し、Rapidusが提唱するDMCO（Design-Manufacturing Co-Optimization）の高度化を進め、さらにPDKの開発で革新的な高精度化を目指します。

この戦略的協業において両社は、まずPDK高精度化に寄与する要因の抽出、その影響の大きさを明確にするための手法や技術を協議し、その後これら手法の実現、実装に向けて検討していきます。並行して半導体素子や回路の性能向上に寄与する要因、ウェーハ品質を改善する要因においても、同様の取り組みを実施していきます。

キーサイトグループは、半導体分野において、長年にわたり半導体パラメトリックテスター等を提供しており、半導体製造プロセスを支援してきました。そこで培ってきたノウハウを基に、プロセスの最適化、歩留まり改善、そしてさまざまな現場の問題を解決するために、キーサイト独自の解析アルゴリズムや網羅性、汎用性の高いPCM向けデータフォーマットを開発し、新たなRoot-Cause Analysisソリューションである「Keysight Wafer Operations Analytics Suite」の製品化を進めています。このソリューションにより、半導体設計・製造プロセスにおけるさまざまな問題点に対して、根本原因を迅速かつ正確に特定し、半導体設計・製造品質の向上とコスト削減に貢献することを目指しています。

Rapidusは、全ての製造工程にシングルウェーハ・プロセスを導入し、短TAT（ターンアラウンドタイム）の新しい半導体ファウンドリーサービスRUMS（Rapid and Unified Manufacturing Service）の構築を進めており、さまざまな半導体パラメータのデータ取得を開始しております。パラメトリックテスターからのデータは、キーサイトのRoot-Cause Analysis　において解析され、製造上のさまざまな問題の原因究明に活用されます。また、Rapidusは製造現場で取得したデータを活用し2nm GAA製造プロセスに対応したPDKの開発を進めていきます。2026年3月に先行顧客向けにPDKをリリースし、顧客によるプロトタイピングが開始できる環境を整えます。

【Rapidus株式会社について】

Rapidus株式会社は、世界最先端のロジック半導体の開発、製造を目指す企業です。設計、ウェーハ工程、3Dパッケージなどのサイクルタイム短縮サービスの開発・提供によって、新産業創出を顧客と共に推進していきます。

半導体を通して人々を幸せに、豊かに、人生を充実したものにするために。私たちは、挑戦し続けます。

＜報道関係者の問い合わせ先＞

クレアブ株式会社

荒木美恵子
Email：maraki@kreab.com

八木美希
Email：myagi@kreab.com